ベアチップ実装サービス(OKIネクステック EMS)

OKIネクステックでは、AI半導体製造・検査装置向けのモジュール小型化と短納期化に対応する「ベアチップ実装サービス」を2026年4月22日より開始します。
クリーンルーム内で、ベアチップをはじめとする微小部品やセンサー部品を 高精度に実装し、少量多品種生産にも柔軟に対応します。 さらに、微小部品・ベアチップ・はんだボールの一括実装技術により、工程短縮と高品質な実装を実現します。 設計・実装評価・製品信頼性試験まで一貫して対応し、小型モジュールの製品立ち上げをトータルで支援します。

ベアチップ実装サービスの特徴仕様検討から製品化まで、高品質な基板実装をサポート

微細実装サービス

評価実績

  • WL-CSP:Wafer Level CSP、CSP:Chip Size Package、C4:Controlled Collapse Chip Connection 、FC:Flip Chip

技術基盤と実装レベル

最適な実装技術による高品質な基板提供

技術基盤

当社の通常実装は0603サイズ(チップ部品)、WL-CSPは0.4mmピッチまで対応。
微細実装では0402サイズやベアチップ搭載基板の試作・評価も実績豊富です。
専門部門が開発~評価を一貫して担当し、量産までスムーズに移行可能です。

実装レベル

保有技術・設備

クリーンルーム内実装ライン(ベアチップ実装対応)

  • C4実装ライン
    実装ライン
  • 高性能カスタムマウンタ
    高性能カスタムマウンタ
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X線CT観察装置

X線CT観察装置

EDX/SEM/FT-IRによる組成・信頼性評価

  • EDS(エネルギー分散型X線分析装置)
    EDX
  • SEM(走査型電子顕微鏡)
    SEM
  • FT-IR(フーリエ変換赤外分光光度計)
    FT-IR

冷熱衝撃装置/接続信頼性測定システム

  • 冷熱衝撃装置
    冷熱衝撃装置
  • 接続信頼性測定システム
    接続信頼性測定システム
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生産実績例

新規開発IC評価用モジュール

セラミック基板に評価用ベアチップを搭載。フラックス転写実装を採用。

新規開発IC評価用モジュール

計測モジュール(量産)

WL-CSP搭載の機能モジュールを量産。二次実装用はんだボール実装にも対応。

計測モジュール(量産)

新開発IC評価用基板

WL-CSPと大型部品の混載実装を行い、量産アンダーフィル技術も検証。

新開発IC評価用基板

OKIネクステックのEMSに関するお問い合わせ先
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