OKIネクステックでは、電子基板や部品実装工程などで発生する異物の分析サービスを提供しています。
最新のSEM/EDSやFT-IRなどの分析装置を用い、迅速かつ正確な異物解析・原因特定が可能です。
自社設備による即日分析体制、豊富な分析実績を活かし、品質・信頼性向上に貢献します。
当社で実施した異物分析の具体的な事例をご紹介します。SEM/EDS、FT-IRなどの高度な設備を活用し、スピーディーな対応が可能です。
走査型電子顕微鏡/蛍光X線元素分析装置(SEM/EDS)やフーリエ変換赤外分光分析装置(FT-IR)などを使用し、異物の定性・定量分析に対応します。
SEM/EDSでの高倍率観察と元素分析、FT-IRによる有機物定性分析が可能です。


お客様からご依頼いただいた、基板のコーティング膜に付着した異物分析事例をご紹介します。

今回の異物は白色の粒子状物質であり、SEM観察からゴツゴツとした形状が確認できました。

上図はFT-IRで得られた赤外線吸収スペクトルです。
青線:異物、赤線:ライブラリー照合の結果(炭酸カルシウム)。
この一致から、異物が炭酸カルシウム(CaCO3)の可能性を示唆。
より詳細な元素分析のため、SEM付属EDS分析を実施しました。
EDSによる無機元素分析を行い、炭酸カルシウム(CaCO3)の存在が確認できました。
CaCO3は壁材などに使用されることが多く、環境由来の落下付着が推察されます。

EDS分析結果
異物分析サービスは社内で年間数十件以上対応、即日解析・迅速な品質対策にも強みがあります。
外部依頼よりも短納期で結果が得られるため、品質管理の強化・現場改善に役立ちます。
異物・不良分析でお困りの際はお気軽にご相談ください。